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QFN8测试子板
SOP8SOP8测试子板
芯片测试系统 EEPROM,Flash芯片测试 可靠性测试 老化测试
FTG系列可靠性测试系统应用于EEPROM,FLASH等存储器芯片的可靠性测试、老化测试
非接卡条带模块转14443天线
非接卡条带模块转14443天线,标准天线,可调负载,可用于模块的10373测试
7816转接触卡条带模块
7816转VDFN8测试座
7816转VDFN8测试座_2mm*2mm大小
7816转DFN8测试座
7816转DFN8测试座,5mm*6mm大小
7816转DFN8_SOP8_VSOP8测试座
7816接口转DFN、SOP8、VSOP8测试座
T2000子板
ATE测试子板:T2000子板
定制高温测试座-6PIN接触卡条带
定制高温测试座,6PIN接触卡条带
定制高温测试座-8PIN接触卡条带
定制高温测试座,支持8PIN接触卡模块,智能卡条带
定制高温测试座-8PIN双界面模块
定制高温测试座,支持8PIN双界面模块,智能卡条带
定制高温测试座-6PIN双界面条带
定制高温测试座,支持6PIN双界面条带或模块
定制高温测试座-XOR非接条带
XOR封装,2PIN非接模块,定制高低温测试座
定制高温测试座-4FF卡
SK-4FF
定制高温测试座-3FF卡
SK-3FF
自动发卡机
ATG1
USB自动测试设备 可靠性测试 老化测试 自动下载
QTG20-USB
芯片测试系统 非接卡COS下载 老化测试 可靠性测试
QTG20-CL
多路条带自动测试设备
ATG20-T