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芯片测试系统 非接卡COS下载 老化测试 可靠性测试
QTG20-CL
多路条带自动测试设备
ATG20-T
自动化测试验证平台
STG1001系列
自动刷卡测试系统
CTG-SATD
芯片测试系统 智能卡COS下载 可靠性测试 老化测试 20路同测
QTG20-C 芯片测试系统 智能卡COS下载 可靠性测试 老化测试 20路同测
非接卡自动测试系统
CTG4
通用测试系统 芯片测试 PCBA测试 老化测试 程序自动下载
FTG-64， 通用测试系统 芯片测试 PCBA测试 老化测试 程序自动下载
DM直线运动模组
CTG-SATD2双路接触卡热拔插测试机器人
发卡软件-手机测试卡
QFN8测试子板
SOP8SOP8测试子板
芯片测试系统 EEPROM,Flash芯片测试 可靠性测试 老化测试
FTG系列可靠性测试系统应用于EEPROM，FLASH等存储器芯片的可靠性测试、老化测试
非接卡条带模块转14443天线
非接卡条带模块转14443天线，标准天线，可调负载，可用于模块的10373测试
7816转接触卡条带模块
7816转VDFN8测试座
7816转VDFN8测试座_2mm*2mm大小
7816转DFN8测试座
7816转DFN8测试座，5mm*6mm大小
7816转DFN8_SOP8_VSOP8测试座
7816接口转DFN、SOP8、VSOP8测试座
T2000子板
ATE测试子板：T2000子板
定制高温测试座-6PIN接触卡条带
定制高温测试座，6PIN接触卡条带