产品测试_可靠性测试方案.pdf

产品说明书_QTG20_C接触卡可靠性测试设备.pdf

产品简介

该产品主要解决可靠性测试中要求的高低温和多路同测问题，可用于接触式智能卡的高低温寿命测试和早期失效率评估测试，每套设备以较少的资源配置就即可实现20颗样品同时测试，极大的提高了测试效率，节省人力成本，缩短测试时间

产品特性：

1.支持20路7816接口同时测试

2.支持高低温测试环境，工作范围可达-40℃~＋125℃

3.测试接口可定制不同形态，如SIM卡、标准卡

4.各路读卡器采用隔离设计，可快速定位实效的读卡器电路位置并检测信号

5.各路读卡器单独供电，可通过独立开关控制每路读卡器的工作状态

6.读卡器输出电压范围1.6V~5.5V精度±10mV

7.各路读卡器设有自动过流、过热、过压保护装置

8.上位机软件支持测试样卡的复位、选择、上电、下电、发送APDU命令等功能，支持二次开发

STG1001-QTG软件

STG1001智能卡测试平台，是一款面向智能卡的功能性以及可靠性测试的图形化界面测试平台，与本公司硬件设备QSTP20以及QCSTP20配合使用，详情请参考“软件使用说明书_STG_QTG可靠性测试系统”

软件特点

支持windows、xp、win7及以上平台

支持多设备、多卡槽同时测试，各个卡槽相互独立，执行测试互不影响

支持指定时间循环测试

支持指定循环次数测试

支持测试单个或者多个脚本

实时保存调试log信息

支持TCL脚本语言

支持接触卡7816规范

支持非接触卡的14443-TypeA、14443-TypeB、M1等协议测试

支持PCSC规范，可识别智能卡CCID设备

结构说明：软件主要包括主界面、调试界面和后台文件

主界面：

1.控制界面和测试状态显示界面

2.提供清晰的显示界面，使用户能够直观的看到测试进行状态

3.提供方便的操作界面，用户可以方便的控制多卡槽、多设备的测试

调试界面：

1.提供程序编程和调试界面

2.提供调试单个设备的DEBUG界面

详细资料请咨询： 010-62632548 或邮件：Support@cscmatrix.com